半自动膜厚检测仪HM-S100

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详细介绍

型号	HM-S100	尺寸	650500350mm

产品描述：
1、非接触光学测量系统
2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5m
3、高速采样，极限周期20s
4、强大的CPK统计功能
5、吸附系统及高精度位移系统
6、测量轮廓、断差、槽深、高度等

设备技术参数：

项目	技术参数
外观尺寸	650500350
测量行程	100mm
Z轴可调行程	50mm
有效测量范围	80mm
扫描MIN步距	2um
MAX扫描速度	30mm/s
检测重复精度	≦0.5um
电源	AC220V±10%

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